探针卡的断面构成

  探针卡主要由PCB、探针、ring构成。根据不同的需求,还会有电子元件、stiffener等的需求。


  要使用P/C来测试半导体,所需要的设备包括:Tester,Probe Card,Wafer Prober。其中,wafer prober是用来装载wafer的设备,probe card安装到tester上面,用来测试wafer prober中的wafer。

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